PT-2020-10583 · Samsung · Samsung Mobile Devices

Publicado 2020-03-24 · Atualizado 2020-03-30 · CVE-2019-20607

Positive Technologies (AI Summary) · Pt

CVSS v2.0

10

Crítica

Vetor base

AV:N/AC:L/Au:N/C:C/I:C/A:C

Nome do software vulnerável e versões afetadas

Dispositivos móveis Samsung com N(7.x)

Dispositivos móveis Samsung com O(8.x)

Dispositivos móveis Samsung com P(9.0)

Descrição

Foi descoberta uma falha que permite que invasores executem código arbitrário devido a um estouro de pilha no Trustlet do Keymaster, possibilitando que eles gravem na memória do TEE.

Recomendações

Para dispositivos móveis Samsung com N(7.x), atualize para uma versão que corrija o problema do Trustlet do Keymaster.

Para dispositivos móveis Samsung com O(8.x), atualize para uma versão que corrija o problema do Trustlet do Keymaster.

Para dispositivos móveis Samsung com P(9.0), atualize para uma versão que corrija o problema do Trustlet do Keymaster.

Correção

Memory Corruption

Enumeração de Fraquezas

CWE-787

Identificadores relacionados

CVE-2019-20607

Produtos afetados

Samsung Mobile Devices

Referências · 3

• https://nvd.nist.gov/vuln/detail/CVE-2019-20607 · Nota de Segurança
• https://security.samsungmobile.com/securityUpdate.smsb · Aviso do Fabricante
• https://osv.dev/vulnerability/CVE-2019-20607 · Aviso do Fabricante