PT-2022-17774 · Eos · Eos

Publicado 2022-03-16 · Atualizado 2022-03-28 · CVE-2022-26300

Positive Technologies (AI Summary) · Pt

CVSS v3.1

7.5

Alta

Vetor base

AV:N/AC:L/PR:N/UI:N/S:U/C:N/I:N/A:H

Nome do software vulnerável e versões afetadas

EOS versão 2.1.0

Descrição

Foi descoberta uma vulnerabilidade de estouro de buffer de heap na função txn test gen plugin, que pode ser explorada.

Recomendações

Para a versão 2.1.0 do EOS, considere desativar a função txn test gen plugin como uma solução temporária até que um patch esteja disponível.

Exploit

Correção

Memory Corruption

Enumeração de Fraquezas

CWE-787

Identificadores relacionados

CVE-2022-26300

Produtos afetados

Eos

Referências · 3

• 🔥 https://github.com/EOSIO/eos/issues/10820 · Exploit
• https://osv.dev/vulnerability/CVE-2022-26300 · Aviso do Fabricante
• https://nvd.nist.gov/vuln/detail/CVE-2022-26300 · Nota de Segurança