PT-2025-23575 · Qualcomm · Snapdragon+4

CVE-2024-53017 · Publicado 2025-06-03 · Atualizado 2025-08-20

Positive Technologies (AI Summary) · Pt

CVSS v3.1

6.6

Média

Vetor base

AV:L/AC:L/PR:L/UI:N/S:U/C:L/I:H/A:L

Nome do Software Vulnerável e Versões Afetadas O nome do produto não pode ser determinado.

Descrição O problema está relacionado à corrupção de memória que ocorre ao manipular um comando IOCTL do gerador de padrão de teste.

Recomendações No momento, não há informações sobre uma versão mais recente que contenha uma correção para esta vulnerabilidade.

Enumeração de Fraquezas

CWE-823

Identificadores relacionados

CVE-2024-53017

Produtos afetados

Snapdragon

Sdm429W Firmware

Snapdragon 429 Mobile Platform Firmware

Wcn3620 Firmware

Wcn3660B Firmware

Referências · 6

• https://nvd.nist.gov/vuln/detail/CVE-2024-53017 · Nota de Segurança
• https://t.me/cvenotify/124430 · Publicação no Telegram
• https://t.me/cvetracker/25233 · Publicação no Telegram
• https://twitter.com/CVEnew/status/1929785827564872087 · Publicação no Twitter
• https://docs.qualcomm.com/product/publicresources/securitybulletin/june-2025-bulletin.html · Aviso do Fabricante
• https://t.me/cveNotify/132945 · Publicação no Telegram